codice HS 903141

Per il controllo dei dischi (wafer) o dei dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati) o per il controllo delle fotomaschere o dei reticoli destinati alla fabbricazione di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

Strumenti e apparecchi ottici per l'ispezione di wafer o dispositivi a semiconduttore o per l'ispezione di fotomaschere o reticoli utilizzati nella fabbricazione di dispositivi a semiconduttore

HS codice : 903141 GN codice : 90314100 Taric codice : 903141000080