HS kode 903141

Til kontrol af halvlederskiver eller komponenter (herunder integrerede kredsløb) eller til kontrol af fotomasker eller retikler, der anvendes ved fremstilling af halvlederkomponenter (herunder integrerede kredsløb)

Optiske instrumenter og apparater til inspektion af halvlederwafere eller anordninger eller til inspektion af fotomasker eller sigtemiddel, der anvendes til fremstilling af halvlederanordninger

HS kode : 903141 GN kode : 90314100 Taric kode : 903141000080