HS-code 903141

Zum prüfen von halbleiterscheiben (wafers) oder halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter schaltungen) oder zum prüfen von fotomasken und reticles für die herstellung von halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter schaltungen)

Instrumente, apparate und geräte, optisch, zum prüfen von halbleiterscheiben "wafers" oder halbleiterbauelementen oder zum prüfen von fotomasken und reticles für die herstellung von halbleiterbauelementen

HS code : 903141 GN code : 90314100 Taric code : 903141000080